스마트 카드, RFID 인레이/태그, NFC 및 인덕터의 LF 및 HF RF 성능 검사
T8200PRO-G는 일본 Testram 사의 최고급 RFID 종합 테스트 장비입니다. RFID, 스마트 카드(비접촉식 및 듀얼 인터페이스), 전력 인덕터 개발 및 제조, 과학 연구 및 교육, 연구소 또는 시험 기관에 적합하며 자동화 생산 라인에 쉽게 통합할 수 있습니다.
※ 다양한 크기의 LF 및 HF 장치의 파라미터를 정확하게 측정합니다. 측정 항목에는 다음이 포함됩니다.
공진 주파수, 감쇠, Q 값, UID 코드 읽기 및 일부 칩 인식 지원.
※ 송신 또는 반사 특성(방향성 결합 포함) 테스트 가능, RF 입력 전력 조절 가능, 아날로그 카드 판독기.
※ 테스트 결과 및 파형은 로그 파일에 자동으로 기록됩니다.
※ 시료의 적합 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 테스트 범위입니다.
※ 단일 컴퓨터 버전(개인용) 및 온라인 자동화 솔루션(대량 생산용)이 있습니다.
※ 스마트 카드, RFID 태그 공진 주파수 감지:
측정 결과가 정확한지 여부를 알려주고, 점검 로그 파일을 자동으로 생성합니다.
RF 출력 조절 가능 범위: -30dBm~15dBm.
RF 안테나는 듀얼 인터페이스 카드 코일 인레이와 같은 칩 바인딩 전에 감지할 수 있습니다.
※ RFID 읽기/쓰기 안테나 공진 주파수 감지.
※ 무선 전원 공급 코일 및 전력 인덕터의 자체 공진 주파수 검출.
| 테스트 원칙 | 자기 결합을 이용한 비접촉 공진 주파수 |
| 측정 모드 | 투과/반사 특성 |
| 테스트 항목 | 공진 주파수, 감쇠, Q 값, UID, 칩 유형(부품) |
| 규약 | ISO14443A (MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)ISO14443B (PUPI 전용), 펠리카 ISO15693 (Tag-it HF-I Plus/Pro, ICODE SLIX2) |
| 데이터 포인트 | 100~2048점 |
| 테스트 시간 (데이터 포인트=1000) | 신분증 판독 없이: 0.5초(일반)신분증 판독 시간: 1초 (일반) |
| 로그 파일 | 로그 파일(csv):UID, 합격/불합격 여부, 공진 주파수, 감쇠, Q 값 파형 형식: csv, jpg |
| 주파수 범위 | 10kHz~100MHz |
| 응용 전력(50Ω 부하) | -30~15dBm |
| DIO 인터페이스(선택 사항) | 절연된 입력/출력 |
| 시스템 요구사항 | PC(운영체제) 윈도우 7, 윈도우 8.1, 윈도우 10USB2.0 이상 |
| 전원 공급 장치 | USB 버스 전원(소모 전류 ≤500mA) |
| 포장 목록 | 본체, USB 케이블, 동축 케이블(500m x2), 고주파 표준 카드형 테스트 지그, 테스트용 안테나 플레이트(다양한 크기 옵션), 설치 CD |
| 치수 중량 | 125(가로)x165(세로)x40(높이)mm, 돌출부 제외, 0.8kg |
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