LFおよびHFスマートカード、RFIDインレイ/タグ、NFCおよびインダクタのRF性能検査
T8200PRO-Gは、テストラムジャパンが開発した最高峰のRFID総合テスターです。RFID、スマートカード（非接触型およびデュアルインターフェース）、パワーインダクタの開発・製造、科学研究・教育、研究所や試験機関などに最適で、自動生産ラインへの組み込みも容易です。
※各種サイズのLFおよびHF機器の各種パラメータを正確に測定します。
共振周波数、減衰量、Q値、UIDコードの読み取りおよび一部のチップの認識をサポート。
※透過特性または反射特性（方向性結合を含む）のテストが可能、調整可能なRF入力電力、アナログカードリーダー。
※テスト結果と波形はログファイルに自動的に書き込まれます。
※ サンプルが合格基準を満たしているかどうかを判断するための、あらかじめ設定された試験範囲。
※単体コンピュータ版（単回使用向け）とオンライン自動化ソリューション（量産向け）をご用意しています。
※スマートカード、RFIDタグの共振周波数検出：
測定結果が正しいかどうかを通知する。チェックログファイルを自動的に生成する。
調整可能なRF出力：-30dBm～15dBm。
RFアンテナは、デュアルインターフェースカードのコイルインレイなど、チップバインディング前に検出することができます。
※RFID読み書きアンテナの共振周波数検出。
※無線電源コイルおよびパワーインダクタの自己共振周波数検出。
| テストの原則 | 磁気結合による非接触共振周波数 |
| 測定モード | 透過／反射特性 |
| テスト項目 | 共振周波数、減衰量、Q値、UID、チップタイプ（部品） |
| プロトコル | ISO14443A（MIFARE Classic、MIFARE Ultralight）ISO14443B（PUPIのみ）、フェリカ ISO15693（Tag-it HF-I Plus/Pro、ICODE SLIX2） |
| データポイント | 100～2048ポイント |
| テスト時間（データポイント数＝1000） | ID読み取りなしの場合：0.5秒（標準）ID読み取り時：1秒（標準） |
| ログファイル | ログファイル（CSV）：UID、合否判定、共振周波数、減衰量、Q値 波形フォーマット：csv、jpg |
| 周波数範囲 | 10KHz～100MHz |
| アプリケーション電力（50Ω負荷） | -30～15dBm |
| DIOインターフェース（オプション） | 絶縁型入出力 |
| システム要件 | PC（OS）Windows7、Windows8.1、Windows10≥USB2.0 |
| 電源 | USBバスパワー（消費電流≤500mA） |
| 梱包リスト | 本体、USBケーブル、同軸ケーブル（500m×2）、高周波標準カードサイズ試験治具、アンテナプレート試験用オプションサイズ仕様、インストールCD |
| 寸法重量 | 125(幅)×165(奥行)×40(高さ)mm、突起部含まず、0.8kg |
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